HP4291A 阻抗分析仪

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一、计量基准器具
 　　1、高频集总参数阻抗的国家计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻抗量值（包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率）的计量设备和量具。
 　　2、射（高）频集总参数阻抗计量基准器具包括：
 　　2.1空气介质同轴线阻抗基准，其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻抗国家基准，本检定系统移用它，有利于射（高）频、微波阻抗量值的统一。在（1-1000）MHz频段，其技术指标为：
 　　　　反射系数模值｜г｜：1.000±0.002；　　　　相角：±180°±0.5°。
 　　2.2高频阻高频阻抗精密测量装置，它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪，经过准确度论证分析，保证高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能：
 　　　　频率：（1-1000）MHz 
 　　　　反射系数模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
 　　　　相角θ：±180°±0.5°；
 　　　　阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
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