HP4155B半导体测试仪

HP4155B半导体测试仪/ 陈娟151-1265-4880
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深圳佳捷伦电子仪器有限公司
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HP4155B设有四个内置源/监测单元（SMU），两个电压单元（VSU）
，两个电压监测单元（VMU），对于具有非开氏连接的基本半导体连接，
4155B可谓是***选择，分辨为10fA/1μV测量范围为100mA/100V。
任何时候，均可增添41501B SMU和脉冲发生器扩展器。它由0V/1.6A接地单元馈送
可扩展接收两100mA/100V SMU或一个1A/200V SMU和两上同步40V/1μs脉冲发生器。
设定和测量
Agilent 4155B可使用许多测量单元，包括Agilent 41501B做阶梯，脉冲扫描测量，
采样（时域）测量，而无需变动连接。进而，对于可靠性评估还可做应力循环测量，
例如热载流子的注入和快速EEPROM测评。
我们的优势：
品种齐全，货源充足，存库雄厚，服务快捷，维修能力强。
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